Content on this page requires a newer version of Adobe Flash Player.

Get Adobe Flash player

Conheça nossa Tecnologia

(11) 2028-7941

Sistema de emissão óptica

Tecnologia

O espectrômetro de emissão óptica é uma técnica analítica considerada universal e usada para determinar a composição química de ligas, em qualquer fase do processo de produção que exista a necessidade de analise instantânea do material. Graças à precisão do método e ao curto tempo de análise, representa um sistema de controle da produção válido em todos os campos da indústria: siderúrgica, fundição, metal mecânica, montadoras e etc.

A GNR graças aos muitos anos de experiência na área, já projetou uma grande quantidade de instrumentos com a intenção de oferecer o melhor instrumento para todas as necessidades.

Sistema de difração de Raio X

Tecnologia

A difração de raio X (XRD) é uma técnica não destrutiva para a análise qualitativa e quantitativa dos materiais cristalinos, 
na formulação do pó ou do sólido. XRD é obtido basicamente como a "reflexão" de um feixe de raio X de uma família paralela e de planos atômicos igualmente separados, seguindo a lei de Bragg: quando um feixe de raio X monocromático com a freqüência "l" é incidido no vértice plano com um ângulo "q", a difração ocorre se o trajeto dos raios refletir por planos sucessivos (com distância "d") é um múltiplo da freqüência. "l" é a freqüência da radiação que vem do tubo de Raio X.

O Stress residual: forças que resulta em uma compressão ou em uma pequena dilatação dos afastamentos. Com XRD é possível medir a tensão (a deformação do latice original) e o stress é calculado graças ao constantes elásticas do material 
A textura: é a orientação dos cristais em um espécime. Se uma textura estiver presente em um material , a intensidade de uma linha de difração muda sua orientação com respeito a feixe de incidente na mesma.

Tamanho e cadeia cristalina do: esta informação é obtida pela análise da largura e da forma das linhas de difração.

Análise da estrutura: XRD é usado investigar a estrutura cristalografica de um material. A posição e as intensidades relativas das linhas de difração podem ser correlacionadas à posição dos átomos na pilha da unidade, e a suas dimensões. O indexação, o refinamento da estrutura e a simulação podem ser obtidos com programas de computador específicos.

Película fina: Mantendo o feixe incidindo em ângulos baixos, é possível investigar as propriedades das multicamadas , minimizando a interferência da carcaça. Ao mesmo tempo que pode-se executar a medição refletômetrica.

Sistema de Fluorescência de Raio X

Tecnologia

A radiação fornecida por uma fonte dos raios X é reservada para colocar na amostra a ser analisada. A energia da radiação deve ser suficiente para deslocar os elétrons no 'K', no 'L' ou nos 'M'-escudos dos átomos atuais na amostra.

Quando um elétron dos 'K'-escudos é deslocado sai de uma vacância que desesetabiliza as estruturas da energia do átomo. Um elétron de um nível elevado de energia cairá nesta vacância.

feiras & eventos

Feira

FENAF 2015
28/09 a 01/10/2015,

das 13h às 20h.
Estande D06

Ver Mapa Ver Mapa
facebook.com/gnrbrasil.net | Linkedin |
   
Rua Cipriana Martinez Zonta, 101 A Sl. 02 - CEP: 03189-160 - São Paulo - SP | 2014 © GNR Brasil | Webmail   Desenvolvimento